步進(jìn)驅(qū)動IC芯片鑒別方法

   1、不在路檢測

這種方法是在IC未焊入電路時進(jìn)行的，一般情況下可用萬用表測量各引腳對應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的IC進(jìn)行必較。

  2、在路檢測

這是一種通過萬用表檢測IC各引腳在路（IC在電路中）直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗(yàn)法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩，是檢測IC最常用和實(shí)用的方法。

  3、直流工作電壓測量

這是一種在通電情況下，用萬用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測量；檢測IC各引腳對地直流電壓值，并與正常值相較，進(jìn)而壓縮故障范圍，出損壞的元件。測量時要注意以下八點(diǎn)：

(1)萬用表要有足夠大的內(nèi)阻，少要大于被測電路電阻的10倍以上，以免造成較大的測量誤差。

(2)通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機(jī)，信號源要采用標(biāo)準(zhǔn)彩條信號發(fā)生器。

3)表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC。可采取如下方法防止表筆滑動：取一段自行車用氣門芯套在表筆尖上，并長出表筆尖約0．5mm左右，這既能使表筆尖良好地與被測試點(diǎn)接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點(diǎn)也不會短路。

(4)當(dāng)測得某一引腳電壓與正常值不符時，應(yīng)根據(jù)該引腳電壓對IC正常工作有無重要影響以及其他引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析， 能判斷IC的好壞。

(5)IC引腳電壓會受外圍元器件影響。當(dāng)外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開路或變值時，或外圍電路連接的是一個阻值可變的電位器，則電位器滑動臂所處的位置不同，都會使引腳電壓發(fā)生變化。

(6)若IC各引腳電壓正常，則一般認(rèn)為IC正常；若IC部分引腳電壓異常，則應(yīng)從偏離正常值****處入手，檢查外圍元件有無故障，若無故障，則IC很可能損壞。

(7)對于動態(tài)接收裝置，如電視機(jī)，在有無信號時，IC各引腳電壓是不同的。如發(fā)現(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號大小和可調(diào)元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定IC損壞。

(8)對于多種工作方式的裝置，如錄像機(jī)，在不同工作方式下，IC各引腳電壓也是不同的。

  4．交流工作電壓測量法

為了掌握IC交流信號的變化情況，可以用帶有db插孔的萬用表對IC的交流工作電壓進(jìn)行近似測量。檢測時萬用表置于交流電壓擋，正表筆插入db插孔；對于無db插孔的萬用表，需要在正表筆串接一只0．1～0．5μf隔直電容。該法適用于工作頻率較低的IC，如電視機(jī)的視頻放大級、場掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測的數(shù)據(jù)是近似值，只能供參考。

  5．總電流測量法

該法是通過檢測IC電源進(jìn)線的總電流，來判IC好壞的一種方法。由于IC內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合，IC損壞時（如某一個pn結(jié)擊穿或開路）會引起后級飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過測量總電流的方法可以判IC的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計算出總電流值。